1、指針表讀取精度較差，但指針擺動(dòng)的過(guò)程比較直觀，其擺動(dòng)速度幅度有時(shí)也能比較客觀地反映了被測(cè)量的大?。ū热鐪y(cè)電視機(jī)數(shù)據(jù)總線（SDL）在傳送數(shù)據(jù)時(shí)的輕微抖動(dòng)）；數(shù)字表讀數(shù)直觀，但數(shù)字變化的過(guò)程看起來(lái)很雜亂，不太容易觀看。

2、指針表內(nèi)一般有兩塊電池，一塊低電壓的1.5V，一塊是高電壓的9V或15V，其黑表筆相對(duì)紅表筆來(lái)說(shuō)是正端。數(shù)字表則常用一塊6V或9V的電池。在電阻檔，指針表的表筆輸出電流相對(duì)數(shù)字表來(lái)說(shuō)要大很多，用R×1Ω檔可以使揚(yáng)聲器發(fā)出響亮的“噠"聲，用R×10kΩ檔甚至可以點(diǎn)亮發(fā)光二極管（LED）。

3、在電壓檔，指針表內(nèi)阻相對(duì)數(shù)字表來(lái)說(shuō)比較小，測(cè)量精度相比較差。某些高電壓微電流的場(chǎng)合甚至無(wú)法測(cè)準(zhǔn)，因?yàn)槠鋬?nèi)阻會(huì)對(duì)被測(cè)電路造成影響（比如在測(cè)電視機(jī)顯像管的加速級(jí)電壓時(shí)測(cè)量值會(huì)比實(shí)際值低很多）。數(shù)字表電壓檔的內(nèi)阻很大，至少在兆歐級(jí)，對(duì)被測(cè)電路影響很小。但*的輸出阻抗使其易受感應(yīng)電壓的影響，在一些電磁干擾比較強(qiáng)的場(chǎng)合測(cè)出的數(shù)據(jù)可能是虛的。

4、總之，在相對(duì)來(lái)說(shuō)大電流高電壓的模擬電路測(cè)量中適用指針表，比如電視機(jī)、音響功放。在低電壓小電流的數(shù)字電路測(cè)量中適用數(shù)字表，比如BP機(jī)、手機(jī)等。不是絕對(duì)的，可根據(jù)情況選用指針表和數(shù)字表。

如不作說(shuō)明，則指用的是指針表：

1、測(cè)喇叭、耳機(jī)、動(dòng)圈式話筒：用R×1Ω檔，任一表筆接一端，另一表筆點(diǎn)觸另一端，正常時(shí)會(huì)發(fā)出清脆響量的“噠"聲。如果不響，則是線圈斷了，如果響聲小而尖，則是有擦圈問(wèn)題，也不能用。

2、測(cè)電容：用電阻檔，根據(jù)電容容量選擇適當(dāng)?shù)牧砍?，并注意測(cè)量時(shí)對(duì)于電解電容黑表筆要接電容正極。①、估測(cè)微波法級(jí)電容容量的大小：可憑經(jīng)驗(yàn)或參照相同容量的標(biāo)準(zhǔn)電容，根據(jù)指針擺動(dòng)的最大幅度來(lái)判定。所參照的電容不必耐壓值也一樣，只要容量相同即可，例如估測(cè)一個(gè)100μF/250V的電容可用一個(gè)100μF/25V的電容來(lái)參照，只要它們指針擺動(dòng)最大幅度一樣，即可斷定容量一樣。②、估測(cè)皮法級(jí)電容容量大?。阂肦×10kΩ檔，但只能測(cè)到1000pF以上的電容。對(duì)1000pF或稍大一點(diǎn)的電容，只要表針稍有擺動(dòng)，即可認(rèn)為容量夠了。③、測(cè)電容是否漏電：對(duì)一千微法以上的電容，可先用R×10Ω檔將其快速充電，并初步估測(cè)電容容量，然后改到R×1kΩ檔繼續(xù)測(cè)一會(huì)兒，這時(shí)指針不應(yīng)回返，而應(yīng)停在或十分接近∞處，否則就是有漏電現(xiàn)象。對(duì)一些幾十微法以下的定時(shí)或振蕩電容（比如彩電開(kāi)關(guān)電源的振蕩電容），對(duì)其漏電特性要求非常高，只要稍有漏電就不能用，這時(shí)可在R×1kΩ檔充完電后再改用R×10kΩ檔繼續(xù)測(cè)量，同樣表針應(yīng)停在∞處而不應(yīng)回返。

3、在路測(cè)二極管、三極管、穩(wěn)壓管好壞：因?yàn)樵趯?shí)際電路中，三極管的偏置電阻或二極管、穩(wěn)壓管的周邊電阻一般都比較大，大都在幾百幾千歐姆以上，這樣，我們就可以用萬(wàn)用表的R×10Ω或R×1Ω檔來(lái)在路測(cè)量PN結(jié)的好壞。在路測(cè)量時(shí)，用R×10Ω檔測(cè)PN結(jié)應(yīng)有較明顯的正反向特性（如果正反向電阻相差不太明顯，可改用R×1Ω檔來(lái)測(cè)），一般正向電阻在R×10Ω檔測(cè)時(shí)表針應(yīng)指示在200Ω左右，在R×1Ω檔測(cè)時(shí)表針應(yīng)指示在30Ω左右（根據(jù)不同表型可能略有出入）。如果測(cè)量結(jié)果正向阻值太大或反向阻值太小，都說(shuō)明這個(gè)PN結(jié)有問(wèn)題，這個(gè)管子也就有問(wèn)題了。這種方法對(duì)于維修時(shí)特別有效，可以非常快速地找出壞管，甚至可以測(cè)出尚未*壞掉但特性變壞的管子。比如當(dāng)你用小阻值檔測(cè)量某個(gè)PN結(jié)正向電阻過(guò)大，如果你把它焊下來(lái)用常用的R×1kΩ檔再測(cè)，可能還是正常的，其實(shí)這個(gè)管子的特性已經(jīng)變壞了，不能正常工作或不穩(wěn)定了。

4、測(cè)電阻：重要的是要選好量程，當(dāng)指針指示于1/3～2/3滿量程時(shí)測(cè)量精度最高，讀數(shù)最準(zhǔn)確。要注意的是，在用R×10k電阻檔測(cè)兆歐級(jí)的大阻值電阻時(shí)，不可將手指捏在電阻兩端，這樣人體電阻會(huì)使測(cè)量結(jié)果偏小。 對(duì)于常見(jiàn)的進(jìn)口型號(hào)的大功率塑封管，其c極基本都是在中間（我還沒(méi)見(jiàn)過(guò)b在中間的）。中、小功率管有的b極可能在中間。比如常用的9014三極管及其系列的其它型號(hào)三極管、2SC1815、2N5401、2N5551等三極管，其b極有的在就中間。當(dāng)然它們也有c極在中間的。所以在維修更換三極管時(shí)，尤其是這些小功率三極管，不可拿來(lái)就按原樣直接安上，一定要先測(cè)一下。

僅用萬(wàn)用表作為檢測(cè)工具的集成電路的檢測(cè)方法

編者按：雖說(shuō)集成電路代換有方，但拆卸畢竟較麻煩。因此，在拆之前應(yīng)確切判斷集成電路是否確實(shí)已損壞及損壞的程度，避免盲目拆卸。本文介紹了僅用萬(wàn)用表作為檢測(cè)工具的不在路和在路檢測(cè)集成電路的方法和注意事項(xiàng)。文中所述在路檢測(cè)的四種方法（直流電阻、電壓、交流電壓和總電流的測(cè)量）是業(yè)余維修中實(shí)用且常用的檢測(cè)法。這里，也希望大家提供其他實(shí)用的（集成電路和元器件）判別檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)。

不在路檢測(cè)

這種方法是在IC未焊入電路時(shí)進(jìn)行的，一般情況下可用萬(wàn)用表測(cè)量各引腳對(duì)應(yīng)于接地引腳之間的正、反向電阻值，并和完好的IC進(jìn)行比較。

在路檢測(cè)

這是一種通過(guò)萬(wàn)用表檢測(cè)IC各引腳在路（IC在電路中）直流電阻、對(duì)地交直流電壓以及總工作電流的檢測(cè)方法。這種方法克服了代換試驗(yàn)法需要有可代換IC的局限性和拆卸IC的麻煩，是檢測(cè)IC和實(shí)用的方法。

1．在路直流電阻檢測(cè)法

這是一種用萬(wàn)用表歐姆擋，直接在線路板上測(cè)量IC各引腳和外圍元件的正反向直流電阻值，并與正常數(shù)據(jù)相比較，來(lái)發(fā)現(xiàn)和確定故障的方法。測(cè)量時(shí)要注意以下三點(diǎn)：

(1)測(cè)量前要先斷開(kāi)電源，以免測(cè)試時(shí)損壞電表和元件。

(2)萬(wàn)用表電阻擋的內(nèi)部電壓不得大于6V，量程最好用R×100或R×1k擋。

(3)測(cè)量IC引腳參數(shù)時(shí)，要注意測(cè)量條件，如被測(cè)機(jī)型、與IC相關(guān)的電位器的滑動(dòng)臂位置等，還要考慮外圍電路元件的好壞。

2．直流工作電壓測(cè)量法

這是一種在通電情況下，用萬(wàn)用表直流電壓擋對(duì)直流供電電壓、外圍元件的工作電壓進(jìn)行測(cè)量；檢測(cè)IC各引腳對(duì)地直流電壓值，并與正常值相比較，進(jìn)而壓縮故障范圍，找出損壞的元件。測(cè)量時(shí)要注意以下八點(diǎn)：

(1)萬(wàn)用表要有足夠大的內(nèi)阻，至少要大于被測(cè)電路電阻的10倍以上，以免造成較大的測(cè)量誤差。

(2)通常把各電位器旋到中間位置，如果是電視機(jī)，信號(hào)源要采用標(biāo)準(zhǔn)彩條信號(hào)發(fā)生器。

(3)表筆或探頭要采取防滑措施。因任何瞬間短路都容易損壞IC。可采取如下方法防止表筆滑動(dòng)：取一段自行車(chē)用氣門(mén)芯套在表筆尖上，并長(zhǎng)出表筆尖約0．5mm左右，這既能使表筆尖良好地與被測(cè)試點(diǎn)接觸，又能有效防止打滑，即使碰上鄰近點(diǎn)也不會(huì)短路。

(4)當(dāng)測(cè)得某一引腳電壓與正常值不符時(shí)，應(yīng)根據(jù)該引腳電壓對(duì)IC正常工作有無(wú)重要影響以及其他引腳電壓的相應(yīng)變化進(jìn)行分析，才能判斷IC的好壞。

(5)IC引腳電壓會(huì)受外圍元器件影響。當(dāng)外圍元器件發(fā)生漏電、短路、開(kāi)路或變值時(shí)，或外圍電路連接的是一個(gè)阻值可變的電位器，則電位器滑動(dòng)臂所處的位置不同，都會(huì)使引腳電壓發(fā)生變化。

(6)若IC各引腳電壓正常，則一般認(rèn)為IC正常；若IC部分引腳電壓異常，則應(yīng)從偏離正常值最大處入手，檢查外圍元件有*，若*，則IC很可能損壞。

(7)對(duì)于動(dòng)態(tài)接收裝置，如電視機(jī)，在有無(wú)信號(hào)時(shí)，IC各引腳電壓是不同的。如發(fā)現(xiàn)引腳電壓不該變化的反而變化大，該隨信號(hào)大小和可調(diào)元件不同位置而變化的反而不變化，就可確定IC損壞。

(8)對(duì)于多種工作方式的裝置，如錄像機(jī)，在不同工作方式下，IC各引腳電壓也是不同的。

為了掌握IC交流信號(hào)的變化情況，可以用帶有dB插孔的萬(wàn)用表對(duì)IC的交流工作電壓進(jìn)行近似測(cè)量。檢測(cè)時(shí)萬(wàn)用表置于交流電壓擋，正表筆插入dB插孔；對(duì)于無(wú)dB插孔的萬(wàn)用表，需要在正表筆串接一只0．1～0．5μF隔直電容。該法適用于工作頻率比較低的IC，如電視機(jī)的視頻放大級(jí)、場(chǎng)掃描電路等。由于這些電路的固有頻率不同，波形不同，所以所測(cè)的數(shù)據(jù)是近似值，只能供參考。

該法是通過(guò)檢測(cè)IC電源進(jìn)線的總電流，來(lái)判斷IC好壞的一種方法。由于IC內(nèi)部絕大多數(shù)為直接耦合，IC損壞時(shí)（如某一個(gè)PN結(jié)擊穿或開(kāi)路）會(huì)引起后級(jí)飽和與截止，使總電流發(fā)生變化。所以通過(guò)測(cè)量總電流的方法可以判斷IC的好壞。也可用測(cè)量電源通路中電阻的電壓降，用歐姆定律計(jì)算出總電流值。

以上檢測(cè)方法，各有利弊，在實(shí)際應(yīng)用中最好將各種方法結(jié)合起來(lái)，靈活運(yùn)用。

如何借助萬(wàn)用表檢測(cè)可控硅

單向可控硅和雙向可控硅兩種，都是三個(gè)電極。單向可控硅有陰極（K）、陽(yáng)極（A）、控制極（G）。雙向可控硅等效于兩只單項(xiàng)可控硅反向并聯(lián)而成。即其中一只單向硅陽(yáng)極與另一只陰極相邊連，其引出端稱T2極，其中一只單向硅陰極與另一只陽(yáng)極相連，其引出端稱T2極，剩下則為控制極（G）。

1、單、雙向可控硅的判別：先任測(cè)兩個(gè)極，若正、反測(cè)指針均不動(dòng)（R×1擋），可能是A、K或G、A極（對(duì)單向可控硅）也可能是T2、T1或T2、G極（對(duì)雙向可控硅）。若其中有一次測(cè)量指示為幾十至幾百歐，則必為單向可控硅。且紅筆所接為K極，黑筆接的為G極，剩下即為A極。若正、反向測(cè)批示均為幾十至幾百歐，則必為雙向可控硅。再將旋鈕撥至R×1或R×10擋復(fù)測(cè)，其中必有一次阻值稍大，則稍大的一次紅筆接的為G極，黑筆所接為T(mén)1極，余下是T2極。

2、性能的差別：將旋鈕撥至R×1擋，對(duì)于1~6A單向可控硅，紅筆接K極，黑筆同時(shí)接通G、A極，在保持黑筆不脫離A極狀態(tài)下斷開(kāi)G極，指針應(yīng)指示幾十歐至一百歐，此時(shí)可控硅已被觸發(fā)，且觸發(fā)電壓低（或觸發(fā)電流?。?。然后瞬時(shí)斷開(kāi)A極再接通，指針應(yīng)退回∞位置，則表明可控硅良好。

對(duì)于1~6A雙向可控硅，紅筆接T1極，黑筆同時(shí)接G、T2極，在保證黑筆不脫離T2極的前提下斷開(kāi)G極，指針應(yīng)指示為幾十至一百多歐（視可控硅電流大小、廠家不同而異）。然后將兩筆對(duì)調(diào)，重復(fù)上述步驟測(cè)一次，指針指示還要比上一次稍大十幾至幾十歐，則表明可控硅良好，且觸發(fā)電壓（或電流）小。

若保持接通A極或T2極時(shí)斷開(kāi)G極，指針立即退回∞位置，則說(shuō)明可控硅觸發(fā)電流太大或損壞。對(duì)于單向可控硅，閉合開(kāi)關(guān)K，燈應(yīng)發(fā)亮，斷開(kāi)K燈仍不息滅，否則說(shuō)明可控硅損壞。

對(duì)于雙向可控硅，閉合開(kāi)關(guān)K，燈應(yīng)發(fā)亮，斷開(kāi)K，燈應(yīng)不息滅。然后將電池反接，重復(fù)上述步驟，均應(yīng)是同一結(jié)果，才說(shuō)明是好的。否則說(shuō)明該器件已損壞。